UIH-1C 超高亮度照明裝置：半導體 Wafer 及 Mask Glass 的丁達爾現(xiàn)象檢測

更新時間：2026-02-28

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1. 設備概述

UIH-1C 型超高亮度照明裝置（UIH Series）是由株式會社 INTECS 開發(fā)的專業(yè)光學檢測設備。該裝置主要利用丁達爾現(xiàn)象（Tyndall Phenomenon），通過投射高亮度光線，輔助用戶對半導體晶圓（Wafer）及光掩模玻璃（Mask Glass）等精密光學材料進行表面與內(nèi)部缺陷的目視檢查。

2. 工作原理與應用對象

檢測原理：當高亮度光線照射到目標物體時，利用丁達爾現(xiàn)象使微小的異物、氣泡或傷痕產(chǎn)生散射光，從而在視覺上清晰可見。
適用對象：

半導體晶圓（Semiconductor Wafer）
光掩模玻璃（Mask Glass）
液晶面板（LCD Panel）
硬盤（Hard Disk）
鏡頭及智能手機部件等。

3. UIH-1C 型號技術規(guī)格

根據(jù)公開的技術資料，UIH-1C 型號的具體參數(shù)如下：

項目	規(guī)格參數(shù)
光源規(guī)格	15V 150W
設計照射范圍	鏡筒前端 180mm 處，直徑 φ40mm
最的高照度	照射范圍中心約 600,000 勒克斯 (Lux)
500,000 勒克斯時的照射范圍	約 φ45mm
倍徑距離與照度	360mm 距離下，照度約 150,000 勒克斯
調(diào)光方式	SCR 相位控制 (SCR Phase Control)
冷卻方式	風扇強制空冷 (Fan Forced Air Cooling)
電源要求	AC100V 變壓器式 (Transformer type)
外形尺寸/重量	約 7kg

4. 運行特性與維護

亮度調(diào)節(jié)：具備 10:1 以上的可變寬度，最的高亮度偏差控制在上限 10%、下限 20%。
燈泡壽命：

最的高亮度下壽命：50 小時以上。
半亮度下壽命：800 小時以上。

冷卻保護機制：該型號不具備“燈泡室冷卻保持功能"（即在主電源關閉后，風扇不會持續(xù)運行至室溫降至 40℃ 以下）。同時，該型號未配備燈泡室內(nèi)發(fā)熱監(jiān)控功能。

5. 總結(jié)

UIH-1C 作為 UIH 系列的基礎型號，通過 150W 高亮度光源和精確的光學設計，能夠滿足半導體 Wafer 及 Mask Glass 在生產(chǎn)過程中的表面?zhèn)?、異物及?nèi)部氣泡的目視檢測需求。其結(jié)構緊湊（約 7kg）且采用標準的變壓器式電源，適合對特定尺寸工件（如設計照射徑 φ40mm 的對象）進行高精度的光學檢查。